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        微尺度制样不用怕LEICA EM TXP 精研一体机来帮忙

        时间:2020-05-15 点击次数:422
           LEICA EM TXP 精研一体机为微尺度制样而生,对毫米和微米尺度的微小目标进行定位、切割、研磨、抛光是一项具有挑战性的工作,主要困难来自:目标太小,不容易观察,精确目标定位,或对目标进行角度校准很困难,研磨、抛光到目标位置常需花费大量人力和时间,微小目标极易丢失,样品尺寸小,难以操作,往往不得不镶嵌包埋。这些问题,只要一台LEICA EM TXP 精研一体机统统都能解决。
          LEICA EM TXP 精研一体机标靶面制备系统具有定点修块抛光功能,是用锯,磨,铣削,抛光样品后,供扫描电镜,透射电镜,和LM技术检测。 带有一体化体视镜,用于精确定位及对较细微难以观察的目标位置进行样品处理时观察;使用样品旋转手柄,可以改变样品观察角度,0°-60°可调,或者垂直于样品前表面90°观察,可利用目镜刻度标尺测量距离。
          LEICA EM TXP 精研一体机是一款独特的可对目标区域进行精确定位的表面处理工具,特别适合于SEM,TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品,如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。有了LEICA EM TXP 精研一体机,这些工作就可轻松完成。在 LEICA EM TXP 精研一体机 之前,针对目标区域进行定点切割,研磨或抛光等通常是一项耗时耗力,很困难的工作,因为目标区域极易丢失或者由于目标尺寸太小而难以处理。使用LEICA EM TXP 精研一体机,此类样品都可被轻易处理完成。另外,借助其多功能的特点,LEICA EM TXP 精研一体机 也是一款可为离子束研磨技术和超薄切片技术服务的极高效的前制样工具。
          与观察体系合为一体,在显微镜下观察整个样品处理过程和目标区域将样品固定在样品悬臂上,在样品处理过程中,通过立体显微镜可对样品进行实时观察,观察角度0°至60°可调,或者调至 -30°,则可通过目镜标尺进行距离测量。LEICA EM TXP 精研一体机还带有明亮的环形LED光源照明,以便获得视觉观察效果。

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